本文標(biāo)題："多晶試片的晶粒形狀-一般用于顯微觀察的金相顯微鏡"
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一般原理（General）
• 有時(shí)必須檢視結(jié)構(gòu)元素和缺陷對(duì)材料性質(zhì)的影響。某些結(jié)構(gòu)元素可能為巨觀的尺寸，
也就是說大到足以用裸眼就可觀察到。
例如，多晶試片的晶粒形狀、平均尺寸大小或晶粒直徑是重要的結(jié)構(gòu)元素特征。
• 巨觀的晶粒可明顯于鋁制的路燈柱子和廢棄的罐頭上得到驗(yàn)證，
同時(shí)具有不同組織的大晶粒也可清楚的鉛錠橫斷面表面觀察到。
• 一般用于顯微觀察的（microscopy）包括光學(xué)顯微鏡、電子顯微鏡和掃描探測(cè)電子顯微鏡，
這些裝置可用以輔助研究材料的微觀結(jié)構(gòu)特性
使用光學(xué)顯微鏡觀察拋光且浸蝕之晶粒所出現(xiàn)之情形。
(b)取自這些晶粒的橫斷面，由于各個(gè)晶粒結(jié)晶學(xué)方向的不同，顯現(xiàn)出不同的浸蝕
特性以及所導(dǎo)致各晶粒不同的表面結(jié)構(gòu)。
(c)多晶黃銅試片的顯微照片
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